固体表面の個々の原子・分子を画像化できる。担持金属モデル触媒表面において、金属ナノ粒子のサイズ・形状の計測や中間体吸着種の拡散挙動の観察に用いる。

担持金属モデル触媒表面において、反応の進行状況をモニターしながら金属活性点の三次元構造を決定できる。当研究室オリジナルの計測手法。

X線光電子分光法（XPS）、昇温脱離法（TPD）、低速電子回折（LEED）、高圧反応室（high-pressure reactor）を装備。モデル触媒表面の構造、電子状態、反応活性についての情報が得られる。

光弾性変調器を通じて偏光方向を高速で切り替えた赤外線を作り出し、反射法により触媒基板表面を観測することで、気相ガス成分を除去した表面吸着種のみの高感度スペクトルを得ることができる。

大気中または電気化学条件下でのAFM及びSTM測定。ナノスケールでの表面形状に関する情報が得られる。原子レベルで平坦化した酸化物単結晶表面や金属単結晶表面の形状観察に用いる。

サイクリックボルタンメトリー（CV）などの電気化学測定。単結晶基板表面の平坦性確認や電極触媒活性評価などに用いる。

不活性雰囲気下での試料調製や電気化学測定に用いる。

粉体触媒のプラズマ触媒反応条件下でin situ XAFS測定を行うための石英セル。